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CyberSCAN VANTAGE 2 膜厚测试仪

 

 

cyberSCAN VANTAGE 2是一款三维表面轮廓测量系统。通过结合高分辨率的共焦传感技术及高精度XY位移平台,该系统可以用x-,y-,z-的最高分辨率扫描200 ×200mm的区域。所有系统组件集成一体,不需要外部控制器,系统仅通过一根USB线和一根网线连接到控制PC。通过ScanSuite软件系统实现复杂表面分析和自动化测量。

cyberSCAN VANTAGE 2结构简单,用途丰富。主要应用于印刷电路的分析和质量控制,如陶瓷或其他材料基底的线路板膜厚测量;太阳能电池导线体积,厚度测量;环氧树脂膜厚等测量。同时还可以适用于高轮廓物体(如焊球、MEMS传感器 )的几何参数特征,位置测量,以及平面度,粗糙度,共面性分析等其他应用。

· 印刷电路、系统或器件
· 封装芯片激光打标深度
· 封装芯片激光打标深度
· 透明材料或涂层

· 八寸晶圆厚度,翘曲度Warp/Bow

 

· 直线电机高精度高速率扫描,分辨率达50nm

· 白光共焦传感器分辨率最小可达3 nm,测量范围最大可达25 mm,测量速率:4 kHz

· 高分辨率离轴摄像机及分立式组合光源

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